產品中心
PRODUCTS CNTER
產品簡介
MINUK是一種可以評估納米量級的透明異物和缺陷的設備，可以單次獲取高度方向的信息，并且可以無損、非接觸、非侵入性地進行測量。此外，還可以高速掃描任何表面并確定測量位置，而無需對焦。
相關文章
可以透明地評估納米量級的污染物和缺陷。
單次拍攝瞬時深度信息
無需對焦即可實現高速測量
非破壞性、非接觸式和非侵入式測量
高速掃描任何表面，便于確定測量位置
| 分辨率 x，y | 691 nm（單次），488 nm（成分） | |||
| 視場 x，y | 700×700微米 | |||
| 分辨率 z | 10 nm（延遲） | |||
| 數字重對焦范圍 z | ±700微米 | |||
| 樣本量 | 100×80×t20 mm | |||
| （連接多功能樣品架時） | ||||
| 樣品臺 | 用于微調的自動 XY 載物臺 | |||
| X：±10 mm Y：±10 mm | ||||
| 用于粗調的載物臺 | ||||
| X：129 mm Y：85 mm | ||||
| 激光 | 波長 638 nm | |||
| 輸出 0.39 mW 以下，Class1 | ||||
| （對樣品的照射強度） | ||||
| 描述 | 主機：505（W）×630（D）×439（H） | |||
| （寬度×深度×高度）毫米 | ||||
| 重量 | 41 千克 | |||
| 功耗 | 主機：290 VA | |||
| *不包括PC和配件。 | ||||
納米階的形狀信息可以通過非接觸、非破壞性和非侵入性的方式獲得。通過單次拍攝獲取深度方向信息，可以可視化和量化透明薄膜表面的劃痕以及肉眼看不見的缺陷的橫截面形狀。
透明薄膜內的填充物可以在一次拍攝中觀察到，這是肉眼看不見的。此外，通過在測量后改變深度方向的焦點，可以識別每個深度的填料。
公司郵箱： qgao@buybm.com
服務熱線： 021-33897997
公司地址： 上海市浦東新區周康路26號E棟408
Copyright © 2025 上海波銘科學儀器有限公司 AlL Rights Reserved
備案號：滬ICP備19020138號-2
技術支持：化工儀器網 管理登錄 sitemap.xml
關于我們
公司簡介 企業文化 榮譽資質 聯系我們快速通道
產品中心 新聞中心 技術文章 在線留言推薦產品
OPTM 系列顯微分光膜厚儀 半導體晶圓缺陷檢測儀 ELSZ-2000系列ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統 RU120便攜式拉曼光譜儀
當前位置：
產品分類
上一個：
返回列表