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當前位置：首頁產品中心半導體材料測試體微缺陷測試SIRM紅外體微缺陷分析儀

SIRM紅外體微缺陷分析儀

產品簡介

SIRM是非接觸和非破壞型光學檢測設備，對體微缺陷，如氧化物和金屬沉淀，位錯、堆垛層錯，體材料中的滑線和空隙等進行測試。

這個技術也可對GaAs 和 InP等復合材料進行測試。

產品型號：
更新時間：2025-06-24
廠商性質：生產廠家
訪問量：1008
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Capability:

  • 無需制樣

  • 最小測試缺陷尺寸10nm

  • 測試缺陷濃度范圍:105-109cm-3

  • 可做外延片測試

  • 測試樣品最大尺寸300mm

SIRM紅外體微缺陷分析儀 SIRM紅外體微缺陷分析儀








上海波銘科學儀器有限公司主要提供光譜光電集成系統、晶萃光學機械和光學平臺、激光器、Edmund 光學元件、Newport 產品、濱松光電探測器、卓立漢光熒光拉曼光譜儀、是德 Keysight 電學測試系統、大塚 Otsuka 膜厚儀、鑫圖科研級相機、Semilab 半導體測試設備及高低溫探針臺系統。經過多年的發展，上海波銘科學儀器有限公司在市場上已取得了一定的地位。我們的產品和服務在行業內具有較高的知zhi名度和美譽度，客戶遍布全國。我們將繼續努力，不斷提升市場地位和影響力。


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